Abstract
采用NH3和N2O的等離子體分別對p-Si(多晶硅)薄膜表面進行了鈍化處理,處理后的 p-Si TFT(薄膜晶體管)具有比未處理 TFT更優越的性能,通電試驗與熱應力試驗后,處理后的器件呈現出更好的承受電負荷和熱應力能力,鈍化的微觀機理是NH3和N2O等離子體中和了p-Si薄膜的懸掛鍵,形成牢固的Si-N鍵,減少了表面態密度.
| Original language | Chinese (Simplified) |
|---|---|
| Pages (from-to) | 693-696 |
| Journal | Wuji Cailiao Xuebao/Journal of Inorganic Materials |
| Volume | 16 |
| Publication status | Published - Jul 2001 |
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